% 針測 良率 5 % 15 % 25 % 21.0 % 33.4 % 38.9 % 晶片 切割 、 目測 良率 85 % 90 % 93 % 80.7 % 90.0 % 93.4 % 複合 良率 2.13 % 9.45 % 18.6 % 11.15 % 26.6 % 32.4 % 資料 來源 ： 林錫銘 ( 1987 ) 電子 所 示範 工廠 美國 平均 三 吋 晶圓 下 線 生產 8000 片 ∕ 月 ─ 晶圓 製作 良率 88 % 83 % 晶圓 測試 良率 ( 電子錶 ) 38 % 38 % 晶方 切割 、 目檢 94 % 94 % 製造 設備 故障率 10 % 12 % 製造 週期 30 班 27 班 晶圓 破損率 2 % 3 % 光阻 修改率 7 % 10 % 資料 來源 ： ITRI/ERSO ． 84 ． 管理 資本 在 台灣 「 品牌 」 及 使用 經驗 ， 使得 產品 在 市場 上 乏人問津 。 當時 台灣 許多 的 半導體 元件 都 是 自 香港 進口 ， 有 些 甚至 在 特定 的 地點 （ 如 現已 拆除 的 中華 商場 ） 「 零售 」 供 人 組裝 ， 不過 本 地 廠商 對於 缺乏 使用 經驗 的 產品 普遍 信心 不足 ， 為 了 克服 台灣 廠商 缺乏 信心 的